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Cientistas usam nanofios de cristal para melhora de imagens em microscópios eletrônicos

Uma nova tecnologia descoberta por pesquisadores do Instituto Nacional de Ciência de Materiais (NIMS) em parceria com a fabricante de microscópios eletrônicos JEOL – ambos no Japão – promete aprimorar a visualização de imagens nesses equipamentos. Baseada em nanofios de cristal, a arma de emissão de campo (FEG) desenvolvida pelos cientistas deve ser usada em […]
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